Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
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Produktinformationen "Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie"
| Erscheinungsjahr | 1986 |
| FSK | 0 |
| Publisher | Buchpark GmbH, Krügerweg 1, 14959 Trebbin, Telefon: +4933817976585, E-Mail: info@buchpark.de |
| Autor | Grasserbauer, M.; Dudek, H.J.; Ebel, Maria F. |
| Sprache | Deutsch |
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